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Bauteilabfrage im In-Circuit-Test

In-Circuit-Tests werden zum frühestmöglichen Erkennen von fehlerhaften, verbauten Bauteilen eingesetzt.
Über definierte Prüfpunkte werden auf bestückten Leiterplatten sowohl die Bauteilwerte, die korrekte Position als auch die Einbaurichtung der einzelnen Komponenten geprüft. Zusammen mit einem Funktionstest können so fehlerhafte Bauteile schnell erkannt und Zusatzkosten beim Kunden sicher vermieden werden.


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